GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

标准编号：GB/T 43226-2023

标准名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

英文名称：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

发布日期：2023-09-07

实施日期：2024-01-01

归口单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会

执行单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会

主管部门：国家标准化管理委员会

起草人

赵元富、陈雷、郑宏超、李哲、陈淼、王汉宁、王亮、岳素格、林建京、李永峰

起草单位

北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院

标准范围

本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。

本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。

标准文档截图