GB/T 42968.1-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义

标准编号：GB/T 42968.1-2023

标准名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义

英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1: General conditions and definitions

发布日期：2023-09-07

实施日期：2024-01-01

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门：工业和信息化部（电子）

起草人

崔强、付君、方文啸、吴建飞、朱赛、杨红波、张艳艳、白云、黄雪梅、陈燕宁、臧琦、刘佳、郭文明、张金玲、张先利、陈梅双、乔彦彬、郑益民、叶畅、李楠、刘星汛、李金龙、周香、刘小军、邵鄂、万发雨、梁吉明、胡小军、邢立文、张青青

起草单位

中国电子技术标准化研究院、浙江诺益科技有限公司、天津先进技术研究院、扬芯科技（深圳）有限公司、上海市计量测试技术研究院、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、中国信息通信研究院、厦门海诺达科学仪器有限公司、郑州新基业汽车电子有限公司、南京容向测试设备有限公司、中国电子科技集团公司第三十二研究所、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、广州市诚臻电子科技有限公司、北京无线电计量测试研究所、中国家用电器研究院、东南大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、南京信息工程大学、中国合格评定国家认可中心、苏州泰思特电子科技有限公司、北京邮电大学、上海电器设备检测所有限公司

标准范围

本文件定义了集成电路（IC）传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的通用信息，描述了常规的试验条件、试验设备和布置、试验程序和试验报告内容。附录A中给出了试验方法的对照表，帮助选择适当的测量方法。

标准文档截图