GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法

标准编号：GB/T 42969-2023

标准名称：元器件位移损伤试验方法

英文名称：Displacement damage test method for components

发布日期：2023-09-07

实施日期：2024-01-01

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门：工业和信息化部（电子）

起草人

罗磊、于庆奎、张洪伟、郑春、汪朝敏、李豫东、唐民、朱恒静、陈伟、丁李利、文林、薛玉雄

起草单位

中国空间技术研究院、西北核技术研究院、中国科学院新疆理化技术研究所、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、中国电子科技集团公司第四十四研究所、扬州大学

标准范围

本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。

本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD)、光电A合器、图像敏感器（APS)，光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。

标准文档截图