SJ/T 11845.2-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件

标准编号：SJ/T 11845.2-2022

标准名称：基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件

英文名称：Reliability evaluation methods for electronic components and devices based on low frequency noise-Part 2: Photocouplers

发布日期：2022-10-20

实施日期：2023-01-01

提出单位：工业和信息化部

归口单位：工业和信息化部

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

加春雷、包军林、王四新、熊盛阳、张伟、余永涛、赵美星、王君 、顾惠萍、李兆成、孙立军

起草单位

中国运载火箭技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司、西安电子科技大学、北京瑞普北光电子有限公司、中国电子科技集团公司第四十四研究所、苏州半导体总厂有限公司、深圳市量为科技有限公司

标准范围

本文件规定了用于光电耦合器件（以下简称器件）可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。

本文件适用于输出端为两端口的器件，包括光敏二极管输出型器件、光敏晶体管输出型器件、光敏达林顿管输出型器件、光电池输出型器件、光控品闸管输出型器件。

标准文档截图