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SJ/T 11874-2022 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序
标准编号：SJ/T 11874-2022
标准名称：电动汽车用半导体分立器件应力试验程序
英文名称：Stress test procedure for discrete semiconductor in electric vehicle
发布日期：2022-10-20
实施日期：2023-01-01
提出单位：工业和信息化部电子第四研究
归口单位：工业和信息化部电子第四研究
批准发布部门：工业和信息化部
起草人
周圣泽、张秋、任艳、陈媛、王之哲、张树琨
起草单位
工业和信息化部电子第五研究所、工业和信息化部电子第四研究院、车载服务产业应用联盟
标准范围
本文件描述了电动汽车用半导体分立器件（以下简称器件）的分级及最低应力试验程序（用于应力试验程序组成器件检验方案）。
本文件适用于指导制定电动汽车用半导体分立器件检验方案的确定。