- SJ/T 11891-2023 LED 显示屏能效测试方法
- SJ/T 11829.2-2022 晶体硅光伏电池用等离子体增强化学气相淀积(PECVD)设备 第2部分:板式PECVD设备
- SJ/T 11785-2021 健康管理腕式可穿戴设备技术要求
- SJ/T 10619-2022 电子设备用固定电阻器详细规范 RYG2型金属氧化膜功率型固定电阻器 评定水平E
- SJ/T 11183-2022 旋转式涂覆设备通用规范
- SJ/T 11457.2-2022 波导型介电谐振器 第2部分:应用于振荡器和滤波器的使用指南
- SJ/T 11807-2022 锂离子电池和电池组充放电测试设备规范
- SJ/T 10557.1-2022 电解电容器用铝箔技术条件
- SJ/T 10632-2022 电子陶瓷原材料粘土、长石、菱镁矿、方解石、白云石、滑石、石英中杂质的原子吸收分光光度测定法
- SJ/T 11775-2021 半导体材料多线切割机
SJ/T 10553-2021 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
标准编号:SJ/T 10553-2021
标准名称:电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
英文名称:Method of emission spectrochernical analysis of impurities in ZrO2 for use in electron ceramics
发布日期:2021-03-05
实施日期:2021-06-01
提出单位:全国半导体设备与材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备与材料标准化技术委员会
批准发布部门:工业和信息化部
起草人
张旭、张理、裴会川
起草单位
中国电子技术标准化研究院
标准范围
本标准规定了电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法。
本标准适用于电子陶瓷用二氧化锆中铁、硅、磷、钙、镁和钛的氧化物杂质测定的中型摄谱仪方法。