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GB/T 45114-2024 纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
标准编号:GB/T 45114-2024
标准名称:纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
英文名称:Nanotechnologies—Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy
发布日期:2024-12-31
实施日期:2025-07-01
提出单位:中国科学院
归口单位:全国纳米技术标准化技术委员会
批准发布部门:中国科学院
起草人
李旭、任玲玲、黄鹭、娄花芬、刘伟丽、李适、郭新秋、刘俊杰、雷前、高思田、王亚磊、张毅、王宇婷、莫永达、曹丛、马拥军、王俪颖、赵东艳、梁霄鹏、施玉书、崔磊
起草单位
中国计量科学研究院、河南科技大学、北京市科学技术研究院分析测试研究所(北京市理化分析测试中心)、山东省计量科学研究院、上海交通大学、西南科技大学、测试狗(成都)实验检测有限公司、中铝科学技术研究院有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、清华大学深圳国际研究生院、中南大学、南京市计量监督检测院
标准范围
本文件规定了采集、测量和分析透射电子显微镜(简称“透射电镜”)图像,获得纳米颗粒粒度和形状分布的方法。
本文件适用于纳米物体以及尺寸大于100 nm的颗粒,具体适用范围取决于所需不确定度和透射电子显微镜性能。