GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定

国家标准
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标准编号:GB/T 17473.3-1998

标准名称:厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定

英文名称:Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance

发布日期:1998-08-19

实施日期:1999-03-01

归口单位:全国有色金属标准化技术委员会

执行单位:全国有色金属标准化技术委员会

主管部门:中国有色金属工业协会

起草人

起草单位

昆明贵金属研究所

标准范围

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