GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法

标准编号：GB/T 5594.4-2015

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 4: Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value

发布日期：2015-05-15

实施日期：2016-01-01

归口单位：工业和信息化部（电子）

执行单位：工业和信息化部（电子）

主管部门：工业和信息化部（电子）

起草人

曾桂生、李晓英、薛晓梅

起草单位

中国电子科技集团公司第十二研究所、北京七星飞行电子有限公司、中国电子技术标准化研究院

标准范围

GB/T5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。 本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1MH，温度从室温至500°C条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。

标准文档截图