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GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
标准编号：GB/T 4937.12-2018
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
迟雷、彭浩、崔波、高金环、岳振鹏、李树杰、裴选、张艳杰
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所
标准范围
GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。
本试验与GB/T2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。