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GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
标准编号：GB/T 4937.13-2018
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
张艳杰、彭浩、崔波、高金环、迟雷、张威、李树杰、岳振鹏、裴选、张天福、陈得民、周刚
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、无锡必创传感科技有限公司、北京大学微电子研究院
标准范围
GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。
本试验是破坏性试验。
本试验总体上符合IEC 60068-2-11，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。