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GB/T 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法
标准编号:GB/T 4060-2018
标准名称:硅多晶真空区熔基硼检验方法
英文名称:Test method for boron content in polycrystalline silicon by vacuum zone-melting method
发布日期:2018-09-17
实施日期:2019-06-01
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
起草人
胡伟、刘晓霞、王桃霞、胡自强、万烨、杨旭、耿全荣、鲁文锋、宗冰、肖建忠
起草单位
江苏中能硅业科技发展有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、亚洲硅业(青海)有限公司、峨嵋半导体材料研究所
标准范围
本标准规定了多晶硅中基硼含量的测试方法。
本标准适用于在硅芯上沉积生长的多晶硅棒中基硼含量的测定。基硼含量(原子数)测定范围为
0.01X1018cm-3~5X1015cm-3。