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GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法
标准编号:GB/T 14844-2018
标准名称:半导体材料牌号表示方法
英文名称:Designations of semiconductor materials
发布日期:2018-12-28
实施日期:2019-11-01
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
起草人
楼春兰、毛卫中、邹剑秋、孙燕、马林宝、宫龙飞、贺东江、杨素心、汪新华、潘金平、刘晓霞、张雪囡、丁晓民
起草单位
浙江省硅材料质量检验中心、有研半导体材料有限公司、东莞市中镓半导体科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、天津市环欧半导体材料技术有限公司、有色金属技术经济研究院、浙江海纳半导体有限公司、南京国盛电子有限公司、苏州协鑫光伏科技有限公司
标准范围
本标准规定了半导体多晶、单晶、晶片、外延片等产品的牌号表示方法。
本标准适用于半导体多晶、单晶、晶片、外延片等产品的牌号表示,其他半导体材料牌号表示可参照执行。