JB/T 11602.2-2013 无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第2部分： 用厚滤光板法作持久校验

标准编号：JB/T 11602.2-2013

标准名称：无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第2部分： 用厚滤光板法作持久校验

发布日期：2013-12-31

实施日期：2014-07-01

归口单位：全国试验机标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

徐波、张力 等

起草单位

辽宁仪表研究所、广州国技试验仪器仪表有限公司等

标准范围

JB/T 11602的本部分规定了X射线装置的持久校验，主要是对X射线管电压，管电流的检测以及对因为管的老化造成靶结构改变的检测。 厚滤光板法是基于与X射线管、滤光板和检测装置之间距离确定的厚滤光板后面的剂量率的检测的方法。 这种方法在电压改变时非常灵敏，但却不能提供X射线管的绝对电压值，因此，我们需要一个参考值，建议找到这个参考值，例如在系统的验收试验中寻找。 厚滤板法是一个相当简单的技术，（X射线系统的操作者可以用它来完成系统的持久校验）适用于X射线系统控制器来完成系统中的持久校验。 在改变一些可能会影响X射线管电压的组件后，厚滤波板法也适用于连续性校验。 这个方法可以应用于各种类型的X射线系统，例如，恒电位（系统）、滤波（系统）及管电流大于1mA的脉冲信号发生器。 本部分适用于对X射线管电压用厚滤光板法作持久校验。

标准文档截图