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SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术语和X射线光电子谱术语的样品处理标准导则
标准编号：SJ/T 10458-1993
标准名称：俄歇电子能谱术语和X射线光电子谱术语的样品处理标准导则
发布日期：1993-12-17
实施日期：1994-06-01
归口单位：
批准发布部门：电子工业部
起草人
起草单位
标准范围
本标准导则适用于俄歇电子能谱术(AES)和X射线光电子能谱术(XPS)，也适用于其他表面灵敏分析技术。 本标准导则可能涉及有害的操作、设备及物质，但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前，应该制定适当的安全与保健措施，并确定本导则的应用范围。