立即下载标准文件- T/CASAS 017-2021 第三代半导体微纳米金属烧结技术术语
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T/CASAS 019-2021 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法
标准编号：T/CASAS 019-2021
标准名称：微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法
英文名称：Test method for resistivity of micro and nano metal sintered compact: four probe method
发布日期：2021-11-01
实施日期：2021-12-01
团体名称：北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
起草人
张国旗、叶怀宇、刘旭、张靖、张敬国、赵朝晖、梁明会、刘洋、王可、唐宏浩、周斌、樊嘉杰、刘盼、张凯、王来利、田天成、赵璐冰、高伟
起草单位
北京半导体照明科技促进中心、南方科技大学、有研粉末新材料股份有限公司、北京康普锡威科技有限公司、上海贺利氏工业技术材料有限公司、国家纳米科学中心、广州四探针科技有限公司、哈尔滨理工大学、工业和信息化部电子第五研究所、中国科学院微电子研究所、复旦大学、深圳基本半导体有限公司、广东工业大学、西安交通大学、重庆大学、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟、BOSCHMAN TECHNOLOGY
标准范围
本文件规定了第三代半导体器件封装用微纳米金属烧结体的电阻率测试方法。
本文件适用于第三代半导体器件封装用微纳米金属烧结体的电阻率测试评价；此烧结体不包含烧结件的被连接件(如芯片)、连接基体。
本方法适用于直径大于探针间距10倍、厚度小于探针间距4倍的微纳米金属烧结体圆形样品体积电阻率的测试，不适用于薄膜样品方块电阻的测试。