立即下载标准文件- T/CIE 114-2021 可移动文物三维数字化通用技术要求 古代文物
- T/CIE 123-2021 工业机器人故障诊断与预测性维护 第3部分：故障诊断
- T/CIE 061-2020 立体化智能安全卡口系统通用要求
- T/CIE 063-2020 室内可见光定位技术规范 第2部分:基于标志物识别的室内可见光定位系统
- T/CIE 062-2020 室内可见光定位技术规范 第1部分：基于低频调制光源的室内可见光定位系统
- T/CIE 091-2020 温水冷板式间接液冷数据中心设计规范
- T/CIE 087-2020 单相浸没式直接液冷数据中心设计规范
- T/CIE 086-2020 服务器基板管理控制器（BMC）带外管理功能和性能要求
- T/CIE 090-2020 数据中心温水冷板式间接液冷设备通用技术要求
- T/CIE 098-2021 液/气双通道热管冷板间接液冷数据中心设计规范
T/CIE 126-2021 磁随机存储芯片测试方法
标准编号：T/CIE 126-2021
标准名称：磁随机存储芯片测试方法
英文名称：Test Methods for Magnetic Random-Access Memory Chips
发布日期：2021-12-23
实施日期：2022-02-10
团体名称：中国电子学会
起草人
赵巍胜、彭守仲、李月婷、曹凯华、王昭昊、聂天晓、史可文、王佑、邓尔雅、 陈燕宁、付振、潘成、刘芳、赵桂林、帅喆、孙杰杰、王超、卢辉、王亮、陆时进、李鑫云、曹安妮、王戈飞、刘宏喜、郭玮、何帆、菅端端、南江
起草单位
北京航空航天大学、北京智芯微电子科技有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、致真存储（北京）科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、中国电子技术标准化研究院
标准范围
本标准给出了磁随机存储芯片测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。
本标准适用于磁随机存储芯片测试和磁随机存储芯片关键性能（可靠性和电学参数等）验证。