- T/CNS 61-2022 高温气冷堆核动力厂堆功率阶跃和线性变化动态响应试验导则
- T/CNS 89-2023 高温气冷堆石墨球技术规范
- T/CNS 80-2022 核电厂不锈钢材料热老化试验方法
- T/CNS 77-2022 金属材料液态铅铋控氧环境中腐蚀浸泡试验方法
- T/CNS 83-2022 核电厂工业数据安全管理导则
- T/CNS 94-2023 高温气冷堆燃料元件天然石墨粉技术规范
- T/CNS 84-2022 耐高温纤维织物辐照性能评价方法
- T/CNS 66-2022 高温气冷堆核动力厂一回路气压试验导则
- T/CNS 72-2022 高温气冷堆核动力厂特种设备安全管理规则
- T/CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法
T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法
标准编号:T/CNS 81-2022
标准名称:电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法
英文名称:Simulation test method of proton induced displacement damage effects in charge-coupled device
发布日期:2022-12-16
实施日期:2023-04-01
团体名称:中国核学会
起草人
文林、李豫东、郭旗、周东、何承发、张兴尧、于新、冯婕、王信、张丹、崔帅、李鹏伟
起草单位
中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团公司第五研究院物资部
标准范围
本文件描述了采用质子对电荷耦合器件(CCD)进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。
本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。