JJF(京) 156-2024 痕量水分仪校准规范
标准编号：JJF(京) 156-2024
标准名称：痕量水分仪校准规范
英文名称：Calibration Specification of Trace moisture meter
发布日期：2024-05-16
实施日期：2024-07-01
归口单位：北京市市场监督管理局
起草人
巩娟（中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所）、何萌（中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所）、谢凯丽（中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所）
起草单位
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
标准范围
痕量水分仪一般是由光腔、光源及其变换电路组成的，能直接显示气体痕量水分的仪器，痕量水分仪在湿度变化较快的环境中工作时，一般不能立刻反映被测湿度，需要一定时间后才能达到平衡状态。
痕量水分仪应带有包含湿度测量范围、输入载气要求、工作电源等说明的技术资料，并且应首先经过静态校准。
本规范适用于光腔衰荡光谱法(CRDS)和可调谐半导体激光吸收光谱法(TDLAS)原理以及其他光学原理的痕量水分仪的露点温度、体积比参数的校准。
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