GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法

标准编号：GB/T 1555-1997

标准名称：半导体单晶晶向测定方法

英文名称：Test methods for determining the orientation ofa semiconductor single crystal

发布日期：1997-12-22

实施日期：1998-08-01

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

起草人

起草单位

峨嵋半导体材料厂

标准范围

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