- GB 16413-2009 煤矿井下用玻璃钢制品安全性能检验规范
- GB/T 17822.2-2009 橡胶树苗木
- GB/T 17822.1-2009 橡胶树种子
- GB/T 24592-2009 聚乙烯用高压合金钢管
- GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法
- GB/T 14604-2009 电子工业用气体 氧
- GB/T 24534.4-2009 谷物与豆类隐蔽性昆虫感染的测定 第4部分:快速方法
- GB/T 24534.3-2009 谷物与豆类隐蔽性昆虫感染的测定 第3部分:基准方法
- GB/T 16944-2009 电子工业用气体 氮
- GB/T 24534.2-2009 谷物与豆类隐蔽性昆虫感染的测定 第2部分:取样
GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
标准编号:GB/T 1554-2009
标准名称:硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
英文名称:Testing method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
起草人
何兰英、王炎、张辉坚、刘阳
起草单位
峨嵋半导体材料厂
标准范围
u3000u3000本标准规定了用择优腐蚀技术检验硅晶体完整性的方法。