GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

国家标准
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标准编号:GB/T 1554-2009

标准名称:硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

英文名称:Testing method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques

发布日期:2009-10-30

实施日期:2010-06-01

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

起草人

何兰英、王炎、张辉坚、刘阳

起草单位

峨嵋半导体材料厂

标准范围

u3000u3000本标准规定了用择优腐蚀技术检验硅晶体完整性的方法。

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