GB/T 29506-2013 300mm 硅单晶抛光片

国家标准
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标准编号:GB/T 29506-2013

标准名称:300mm 硅单晶抛光片

英文名称:300mm polished monocrystalline silicon wafers

发布日期:2013-05-09

实施日期:2014-02-01

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

起草人

闫志瑞、孙燕、张果虎、向磊、盛方毓、卢立延

起草单位

有研半导体材料股份有限公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所

标准范围

本标准规定了直径300mm、p型、(100)晶向、电阻率0.5Ω·cm~20Ω·cm规格的硅单晶抛光片的术语和定义、技术要求、试脸方法、检测规则以及标志、包装、运输、贮存等。本标准适用于直径300 mm直拉单晶磨削片经双面抛光制备的硅单晶抛光片,产品主要用于满足集成电路IC用线宽90 nm技术需求的衬底片。

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