立即下载标准文件- GB/T 35010.1-2018 半导体芯片产品 第1部分：采购和使用要求
- GB/T 35011-2018 微波电路 压控振荡器测试方法
- GB/T 35010.7-2018 半导体芯片产品 第7部分：数据交换的XML格式
- GB/T 35005-2018 集成电路倒装焊试验方法
- GB/T 35001-2018 微波电路 噪声源测试方法
- GB/T 35002-2018 微波电路 频率源测试方法
- GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
- GB/T 36043-2018 大型汽轮发电机组轴系动力特性技术规范
- GB/T 25742.3-2018 机器状态监测与诊断 数据处理、通信与表示 第3部分：通信
- GB/T 20961-2018 单绳缠绕式矿井提升机
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
标准编号：GB/T 14028-2018
标准名称：半导体集成电路 模拟开关测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
张冰、李雷、朱华、黄德东、陈志培、闫辉
起草单位
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、西北工业大学、圣邦微电子股份有限公司
标准范围
本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。
本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。