YS/T 14-2015 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法

有色金属行业标准
64浏览

标准编号:YS/T 14-2015

标准名称:异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法

发布日期:2015-04-30

实施日期:2015-10-01

归口单位:全国有色金属标准化技术委员会

批准发布部门:工业和信息化部

起草人

马林宝、杨帆、葛华等

起草单位

南京国盛电子有限公司、有研新材料股份有限公司、上海晶盟硅材料有限公司

标准范围

本标准适用于测量衬底与沉积层之间界面层厚度小于100nm的异质外延层和硅多晶层的厚度,测量范围为1μm~100μm。

标准文档截图

下载信息


立即下载标准文件

大家都在看