T/CASAS 028-2023 Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收方法

标准编号：T/CASAS 028-2023

标准名称：Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收方法

英文名称：Reliability screening and acceptance method for Sub-6GHz GaN radio-frequency devices

发布日期：2023-06-30

实施日期：2023-07-01

团体名称：北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

起草人

默江辉、郭跃伟、刘相伍、刘建利、郑雪峰、迟雷、裴轶、徐瑞鹏、

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、河北博威集成电路有限公司、北京国联万众半导体科技有限公司、中兴通讯股份有限公司、西安电子科技大学、河北北芯半导体科技有限公司、苏州能讯高能半导体有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

标准范围

本文件描述了 Sub-6GHz GaN 射频器件(以下简称“器件”)的可靠性筛选和验收方法。

本文件适用于射频器件的生产、测试、检验和质量评价。

标准文档截图