电子行业标准
SJ/T 11495-2015 硅中间隙氧的转换因子指南
本标准规定了硅中间隙氧的转换因子指南。 标准适用于在室温下测试电阻率大于0.1Ω·cm的n型硅单晶和电阻率大于0.5Ω·cm的p型硅单晶中间氧含量。
SJ/T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范
本标准规定了小功率半导体发光二极管芯片(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则和标志、包装、运输和储存。本标准适用于可见光芯片,紫外发射二...
SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
本标准规定了用短基线红外光谱法测定硅中间隙氧含量。 本标准适用于在室温下用短基线红外吸收法,测量低阻率的n型硅单晶和p型硅单晶中间隙氧含量。测量...
SJ/T 11485-2015 LED型号命名规则
本标准规定了发光二极管器件产品(简称LED器件产品)型号的命名规则。 本标准适用于可见光LED器件产品,其他LED器件产品可参照本标准。
SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法
本标准规定了用二次离子质谱法(SIMS)对硅衬底单晶体材料中氮总浓度的测试方法。 本标准适用于锑、砷、磷的掺杂浓度<0.2%(1×10∧2at·...
SJ/T 11460.6.1-2015 液晶显示用背光组件 第6-1部分: 测试方法 光学与光电参数
本部分规定了液晶显示用背光组件(以下简称背光组件)的光学和光电性能的测试方法。 本部分适用于各类液晶显示用背光组件,包括半导体发光二极管(LED...
SJ/T 11517-2015 电子工业用气体 一氧化碳
本标准规定了一氧化碳的技术要求,试验方法以及包装、标志、贮运及安全。本标准适用于甲酸脱水、甲酸甲酯选择分解、木炭还原二氧化碳、甲醇裂解或使用天然...
SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
本标准规定了测试碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的方法,包括表面轮廓仪法和原子力显微镜法。 本标准适用于碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试。其中,原子力...
SJ/T 11514-2015 印制电路用热固型导体浆料
本标准规定了印制电路用热固导体浆料的术语及定义、要求、试方法、检验规则和包装、标志、运输等。 本标准适用于印制电路板导电图形、接点、触点、跳线、...
SJ/T 11465-2014 网络电视机的网络应用技术要求
本标准规定了网络电视机的网络应用技术要求。 本标准适用于具有互联网功能的数字电视机。
SJ/T 11310.5-2015 信息设备资源共享协同服务 第5部分:设备类型
本标准规定了符合SJ/T 11310-2005和SJ/T...
SJ/T 11513-2015 太阳电池用铝浆
标准规定了太阳电池用铝浆的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和储存等。
SJ/T 11526-2015 信息技术 SCSI基于对象的存储设备命令
本标准定义了对于基于对象的存储设备的控制操作的命令集扩展。在本标准中,结合ISO/IEC14776-454SCSI主命令SPC-4中适用的章条实...
SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
本标准规定了用二次离子质谱法(SIMS)对重掺硅衬底单晶体中氧浓度总量的测试方法。 本标准适用于硼、锑、砷、磷的掺杂浓度<0.2%(1×10∧2...
SJ/T 11508-2015 集成电路用 正胶显影液
本标准规定了集成电路用正胶显影液的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。 本标准适用于集成电路用正胶显影液,以下简...
SJ/T 11529-2015 服装制造生产线射频识别系统通用规范
本标准规定了服装制造生产线射频识别系统的术语和定义、技术要求、测试方法、质量评定程序、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于服装制造生产线射频识别...
SJ/T 11510-2015 液晶显示器用 铝腐蚀液
标准规定了液晶显示器用铝腐蚀液的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。 本标准适用于液晶显示器用铝腐蚀液,以下简称...