电子行业标准

SJ/T 10754-2015 电子器件用金、银及其合金钎料分析方法 清洁性、溅散性的测定

本标准规定了电子器件用金、银及其合金钎料清洁性、溅散性测定方法。

SJ/T 11543-2015 前投影机光学引擎技术要求及测量方法

本标准规定了前投影机光学引擎术语和定义、技术要求、测量方法等要求。适用于前投影的光学引擎,包括液晶(LCD)显示、硅基液晶(LCoS)显示、数字...

SJ/T 11549-2015 晶体硅光伏组件用免清洗助焊剂

本标准主要内容包括免清洗助焊剂的术语和定义、技术要求(外观、密度、酸值、卤化物含量、稳定性、不挥发物含量、可焊性、干燥度、铜镜腐蚀、表面绝缘电阻...

SJ/T 11545-2015 微显投影机用交流超高压汞灯通用规范

本标准规定了微显投影机用交流超高压汞灯的术语和定义、技术要求和测量方法、标志、包装、运输和贮存等要求。适用于微显投影机用交流超高压汞灯,是产品质...

SJ/T 10753-2015 电子器件用金、银及其合金钎料

本标准规定了电子器件用金、银及其合金钎料的要求、质量保证、试验方法和检验规则等。本标准适用于非氧化气氛中钎焊电子器件用金、银及其合金钎料。

SJ/T 11346-2015 电子投影机测量方法

本标准规定了电子投影机的术语和定义、测量条件、测量项目、测量方法、测量结果表述等。本标准适用于电子投影式固定分辨力投影机(以下简称投影机),包括...

SJ/T 11407.3.2-2015 数字接口内容保护系统技术规范 第3-2部分:DTV-CI内容保护系统测试规范

本规范规定了集中空调风机盘管能耗监控系统的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、 包装、运输和贮存。 本规范适用于通过计算风机盘管的有效运...

SJ/T 11548.1-2015 信息技术 社会服务管理 三维数字社会服务管理系统技术规范 第1部分:总则

本标准规定了三维数字社会服务管理系统(以下简称管理系统)的系统结构、信息安全、运行监控、技术性能要求、检测等内容。本部分适用于管理系统的研发、检测和应用等。

SJ/T 11554-2015 用电感耦合等离子体发射光谱法测定氢氟酸中金属元素的含量

本标准规定了采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)测定氢氟酸中金属元素的试验方法。本标准适用于电子工业用氢氟酸中痕量金属元素钠(Na)...

SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则

本部分规规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求,包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。

SJ/T 2658.3-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第3部分:反向电压和反向电流

本部分规定了半导体红外发射二极管反向电压和反向电流的测量原理图、测量步骤以及规定条件。

SJ/T 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽

本部分规定了半导体红外发射二极管调制带宽的测量原理图、测量步骤以及规定条件。

SJ/T 11562-2015 软件协同开发平台技术规范

本标准规定了软件协同开发平台的软件体系结构和功能要素,给出了各组成要素在软件生存周期中的协同过程。本标准适用于软件企业中软件协同开发环境的开发和构建。

SJ/T 2089-2015 电子测量仪器型号命名方法

本标准规定了电子测量仪器(以下简称仪器)的型号命名方法。适用于电子测量仪器及相关的软件产品、附件、模块化仪器及由仪器组成的测量系统等。

SJ/T 10414-2015 半导体器件用焊料

本标准规定了半导体器件用焊料的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存。

SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容

本部分规定了半导体红外发射二极管总电容的测量原理图、测量步骤以及规定条件。

SJ/T 11435-2015 信息技术服务 服务管理 技术要求

本标准规定了信息技术服务管理的总则、监控管理技术要求、过程管理技术要求和决策支撑技术要求,以及支持这三类技术要求的工具应具备的功能和应提供的接口...

SJ/T 11541-2015 立体电视图像质量测试方法

本标准规定了需要佩戴立体眼镜作为辅助设备的立体电视(包括立体电视机及立体显示器)立体图像质量的测量条件和测量方法。适用于佩戴立体眼镜作为辅助设备...

SJ/T 11538-2015 热打印头通用规范

本标准规定了热打印头的要求、试验方法、质量评定程序及标志、包装、运输、贮存等。适用于热打印头的设计和制造。