电子行业标准

SJ/T 11512-2015 集成电路用 电子浆料性能试验方法

本标准规定了集成电路用电子浆料性能试验方法。 本标准适应于集成电路用导体浆料、电阻浆料、介质浆料等电子浆料。

SJ/T 10465-2015 电容器用金属化聚酯薄膜

本标准对电容器用金属化聚酯薄膜的术语和定义、分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存要求作出了具体规定。

SJ/T 2938-2015 电视图像信号发生器通用技术要求和测试方法

本标准规定了电视图像信号发生器共有的性能特性和测试方法。 本标准适用于PAL/D制的电视图像信号发生器,也适用于非行扫描方式的电视图像信号发生器。

SJ/T 2216-2015 硅光电二极管技术规范

本规范规定了硅光电二极管的光电特性和机械特性以及环境特性的技术要求、检验方法和检验规则等。 本规范适用于2CU系列硅光电二极管(以下简称“器件”)。

SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量

本标准规定了在77K时,用红外吸收法来测定砷化镓(GaAs)中替位硼含量的方法。 本标准适用于电阻率大于10∧6Ω·cm的半绝缘砷化镓单晶中替位...

SJ/T 11518-2015 表面贴装技术印刷模板

本标准规定了表面贴装技术印刷模板的术语和定义、产品标记、原材料、要求、检测方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等。 本标准适用于以不锈为主材...

SJ/T 11378.6.1-2015 等离子体显示器件 第6-1部分:数字电视机用彩色等离子体显示器件详细规范

本标准规定了对彩色等离子体显示器件的结构、标志、订货信息、极限值、推荐工作条件、器件性能指标和质量评定程序的详细要求。

SJ/T 11527-2015 磁盘阵列通用规范

本规范规定了磁盘阵列的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和存贮。 本规范适用于采用硬磁盘驱动器或固态硬盘驱动器(下简称盘)的盘阵列,采用...

SJ/T 11506-2015 集成电路用 铝腐蚀液

本标准规定了集成电路用铝腐蚀液(以下简称铝腐蚀液)的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。 本标准适用于集成电路用...

SJ/T 11523-2015 线阵列扬声器系统用音箱性能测试方法

本标准规定了线阵列扬声器系统用音箱的相关性能的测试方法。

SJ/T 11534-2015 微波电路用覆铜箔聚四氟乙烯玻纤布层压板

本标准规定了微波电路用覆铜箔聚四氟乙烯玻纤布层压板(以下简称覆铜板)的分类、各项技术要求、检验方法、检验规则、标志、包装、储存及运输要求。 本标...

SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管(以下简称“器件”)光电参数的测试方法。 本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。 本标...

SJ/T 11310.2-2015 信息设备资源共享协同服务 第2部分:应用框架

本标准规定了设备间在资源共享协同服务的基础协议下实现媒体数据和文件数据流数据资源共享和协同服务的应用框架、设备交互流程模式,以及设备间交互过程中...

SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法

本标准规定了PIN、雪崩光电二极管(以下简称“二极管”)光电参数的测试方法。

SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法

本标准规定了半绝缘砷化镓(GaAs)热稳定性的试验方法。 本标准适用于电阻率在10∧4Ω·cm~10∧9Ω·cm范围半绝缘砷化镓单晶材料的热稳定性试验。

SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法

本标准规定了低位错密度磷化铟(InP)抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。 本标准适用于直径2英寸且EPD小于5000/cm2...

SJ/T 11505-2015 蓝宝石单晶抛光片规范

本标准规定了衬底和红外探测器窗口用蓝宝石单晶抛光片的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装运输和贮存等内容。 标准适用于泡生法和直拉法生长的蓝...

SJ/T 11516-2015 薄膜晶体管(TFT)用掩模版规范

本标准规定了薄膜晶体管(TFT)用掩模版产品的技术要求、试验方法、检验规则以及包装、运输和储存。

SJ/T 11466-2014 红外遥控接收放大器

本标准规定了环氧实体封装系列红外遥控接收放大器技术性能、试验方法、检验规则的要求。 本标准适用于环氧实体封装系列红外遥控接收放大器(以下简称“产品”)。