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GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
标准编号：GB/T 1551-1995
标准名称：硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
英文名称：Test method for resistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe
发布日期：1995-04-18
实施日期：1995-12-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草人
起草单位
上海有色金属工业总公司