立即下载标准文件- T/CIE 133-2022 磁随机存储器件数据保持时间测试方法
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T/CIE 134-2022 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法
标准编号：T/CIE 134-2022
标准名称：磁随机存储芯片数据保持时间测试方法
英文名称：Test methods for data retention time of magnetic random-access memory chips
发布日期：2022-08-10
实施日期：2022-08-10
团体名称：中国电子学会
起草人
赵巍胜、彭守仲、李伟祥、芦家琪、李月婷、雷娜、曹凯华、王昭昊、聂天晓、张博宇、刘佳豪、刘照春、王戈飞、刘宏喜、赵桂林、帅喆、孙杰杰、王超、卢辉、王亮、郑宏超、陆时进、李鑫云、曹安妮、郭玮、何帆、程厚义、杜寅昌
起草单位
北京航空航天大学、致真存储（北京）科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、合肥致真精密设备有限公司
标准范围
本文件规定了磁随机存储芯片数据保持时间测试方法的测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。
本文件适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。