T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法

北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
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标准编号:T/CASAS 030-2023

标准名称:GaN毫米波前端芯片测试方法

英文名称:Measurement methods on GaN millimeter Wave front-end MMIC

发布日期:2023-06-30

实施日期:2023-07-01

团体名称:北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

起草人

周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏

起草单位

中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

标准范围

本文件描述了 GaN 毫米波前端芯片(以下简称“GaN 前端芯片”)的测试条件、测试要求和测试方法。

本文件适用于 GaN 前端芯片的测试、质量评价。

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